Electromigration in metals : fundamentals to nano-interconnects
Ho, Paul. S
| 자료유형 | 단행본 |
|---|---|
| 서명/저자사항 | Electromigration in metals : fundamentals to nano-interconnects / Paul Ho ... [et al.]. |
| 개인저자 | Ho, Paul. S. Hu, Chao-Kun Gall, Martin Sukharev, Valeriy |
| 발행사항 | Cambridge, United Kingdom ; New York : Cambridge University Pres, 2022. |
| 형태사항 | xiii, 417 p. : ill. ; 25 cm. |
| ISBN | 9781107032385 (hardback) 1107032385 (hardback) 9781139505819 (epub) 1139505815 (epub) |
| 서지주기 | Includes bibliographical references and index. |
| 일반주제명 | Interconnects (Integrated circuit technology) --Materials. Metals --Electric properties. Electrodiffusion. |
| 분류기호 | 621.3815 |
| 언어 | 영어 |
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